C-QUAND宣传册

发布时间:2023-6-25 | 杂志分类:其他
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C-QUAND宣传册

C-QUAND是一款低维护、低成本、高可靠性的液相多元素分析仪,可实现降本增效,以及对质量、产量、经济效率、安全、人力和环境影响等方面的过程优化。与同类产品相比,C-QUAND具有更快的响应时间、更好的重复性、更长的运行时间和更低维护运营成本。工 作 原 理C-QUAND使用15瓦功率的50kV银阳极X射线源,激发原子K轨道上的内层电子,随后不稳定的原子会立即用外层轨道(L或M轨道)的电子填充空位。由于该能量差以该元素特定能级的光子发射,硅漂检测器统计检测到的荧光与被测元素的浓度成正相关。测 量 单 元射线源产生的X射线首先经过六种不同滤光片中的一种过滤,再透过一层薄窗击中实际样品。测量碳氢化合物中的硫,窗口由铍制成的,测量水和腐蚀性溶液中的金属时,则用聚酰亚胺,如Kapton®或Upilex®。通过测量单元中的参比金属,无需人工干预,就可完成自动增益验证和标定,消除漂移。加热的样品池和流通管路可以在高达80°C(176°F)的温度下操作,避免沉淀。▪ 连续多元素分析▪ 无需维护▪ 自动零点和量程校正▪ 适用于危险和恶劣环境▪ 符合ASTM和ISO标准▪ 支持远程访问▪ 长寿命SDD和... [收起]
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C-QUAND宣传册
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文本内容
第1页

液 相 多 元 素 在 线 XRF 分 析 仪

凭借四十多年行业经验将XRF技术产业化

实现全流程控制、节约成本和资源

第2页

C-QUAND是一款低维护、低成本、高可靠性的液相多元素分析仪,可实现降本增效,以及

对质量、产量、经济效率、安全、人力和环境影响等方面的过程优化。与同类产品相比,

C-QUAND具有更快的响应时间、更好的重复性、更长的运行时间和更低维护运营成本。

工 作 原 理

C-QUAND使用15瓦功率

的50kV银阳极X射线源,激发

原子K轨道上的内层电子,随

后不稳定的原子会立即用外层

轨道(L或M轨道)的电子填充

空位。由于该能量差以该元素

特定能级的光子发射,硅漂检

测器统计检测到的荧光与被测

元素的浓度成正相关。

测 量 单 元

射线源产生的X射线首先经过六种不同

滤光片中的一种过滤,再透过一层薄窗击中

实际样品。测量碳氢化合物中的硫,窗口由

铍制成的,测量水和腐蚀性溶液中的金属时,

则用聚酰亚胺,如Kapton®或Upilex®。

通过测量单元中的参比金属,无需人工干预,

就可完成自动增益验证和标定,消除漂移。

加热的样品池和流通管路可以在高达80°C

(176°F)的温度下操作,避免沉淀。

▪ 连续多元素分析

▪ 无需维护

▪ 自动零点和量程校正

▪ 适用于危险和恶劣环境

▪ 符合ASTM和ISO标准

▪ 支持远程访问

▪ 长寿命SDD和X射线管

分析仪基于能量色散X射线荧光(ED-XRF)技术,使用硅漂移探

测器(SDD),测量所产生的荧光能量和强度,以测量样品中元素

种类和含量,是一种非破坏性的分析检测,可测量从硅(原子数14)

到铀(原子数92)之间的任何元素。

简 介

射出的k壳层电子

发出X

射线Kβ

L层电子

填充空隙

M层电子

填充空隙

发出X

射线Kα

50kV射线源

L

M

K

图1. X射线荧光原理

图2. 测量单元示意图

产品优势

SDD检

测器

X射

线源

样品进

样品出

滤光轮

检漏器

第3页

分 析 仪 操 作

交钥匙解决方案

精心设计的样品预处理系统可以最大限度

地保证测量可用性,是在线XRF分析成功的关

键。 Hobré凭借40多年的行业经验,锤炼出了

一套拥有独特技术,适用于多种恶劣工况的解

决方案,包括对如高腐蚀性液体、高磨损性颗

粒浓度样品等的分析,支持定制,欢迎垂询。

易操作、低维护

C-QUAND无需样品制备或转化即可进行

测量,不需要额外的化学试剂、缓冲液等耗材,

没有运动部件,从根源上消除堵塞的可能性。

样品池窗口覆盖特殊涂层,有效减少污染,

延长使用寿命,减少维护。

可通过Modbus RS485或TCP/IP进行远程

访问HMI上的过程趋势图。

标定简单

如下图所示,使用空白样和1000ppm硫

标准样校准后的分析仪测量10、20和100ppm

的样品,C-QUAND具有非常线性的响应。

浓度,ppm

强度,cps

图3. 硫测量的线性相关图

▪ ULSD、ULSG、原油、煤油中的总硫测量

▪ 原油中氯的测量

▪ CDU冷凝器和脱盐罐的腐蚀控制

▪ HDS和FCC进料中催化剂金属毒物的测量

▪ 液相催化过程(如PTA、 PIA、FDCA等)

▪ 金属精炼与回收

▪ 废水中重金属的检测

行 业 应 用

100%可靠的测量

C-QUAND提供真正可靠的测量,无需人

为干预。标配全自动增益验证与校正功能。 CQUAND PLUS拥有测量池全自动冲洗和零点

与量程验证及校正系统,适用于测量低浓度轻

元素(如ULSD和ULSG中的硫)或易结垢、易

漂移的应用场景。

第4页

技 术 参 数

测量原理 能量色散X射线荧光(ED-XRF)

测量元素 从硅(分子量14)到铀(分子量92)

量程 从<1 ppm wt 至 >10%wt(视具体应用而定)

同时可测元素 最多8种(视具体应用而定)

测量周期 通常5分钟

X射线检测器 高分辨率SDD检测器(135eV)

HV电源 50kV

X射线管 15W,银阳极

滤光轮 6位(6种滤片)

稳定性 内置固体参比材料,环境温度压力补偿

样品窗口材质 铍或聚酰亚胺镀层

本地HMI 8”全彩色触摸屏

模拟量输出 2路或4路4~20mA

数字量输出 8路24VDC。隔离继电器输出可选

数字量输入 8路,闭合或24V输入可选

通讯模式 Modbus TCP/IP,Modbus RS485

自动标定/校验 是

尺寸(HxWxD) 1000 x 400 x 360 mm

重量 约85kg(壁挂式)

防护等级 IP65/NEMA 4X

环境温度 5~35°C(室内安装)

电源 115~230VAC 50/60Hz 100~200W

防爆认证 IECEx/ATEX II 2G Ex pxb … [ib] IIC T4 Gb; Ex db (信号箱)

Class 1 Div. 2 BCD T3, Z型吹扫

仪表空气 5BarG / 60psig, ATEX:<3Nl/min,Cl. 1 Div. 2:<1SCFM

电源 115~230VAC 50/60Hz 100~200W

样品流量 25~200 ml/min

样品温度/压力/粘度 <80°C / 常压 / <20 cSt(其他粘度,敬请垂询)

其他 无游离水,过滤等级<10微米

地址:杭州市滨江区六和路309号中控科技园

网址:www.supcon.com

电话: +86 (571) 88851888

电邮:asip@supcon.com

Netwerk 4, 1146 WK Purmerend, Netherlands

www.hobre.com

+31 299 420871

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